TR518FV是德律科技继成功推出TR518FE之后，运用更先进之零組件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。 

视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易

电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC

保护二极体之测试程式 

电脑自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向  

可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式 

完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据 

系統具自我诊断功能及远端遙控功能

Board View功能可即時显示不良元件、针点之位置，方便检修   

高科技半導體CMOS Switching設計，無壽命限制，待測物安全性高 

操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式模型主机设计，高密度SwitchingBoard，高可达3584测试点  

可加装调整装置具动态调整裝調整功能 

多重安全性设计，确实保障操作人員 

率先引进TestJet Technology技术，检测SMT元件开路空

焊問題，效果佳   

应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题   

辅助学习模組可检测IC反向问题 

漏电流量测方式可辅助检测電容容性达50-60% 

选项功能强大，可针对同之测试需求，加裝如频率量测、

电压量测、电流量测  

具备1MHZ信号源，可精确量测小电容小电感 

具三点量测模式，可量测电晶体FET、SCR等元件，并可对Photo-Coupler提供四点量测，确实检测上述元件 之反插问题具Pin Contact检查功能